DFT 有两个主要的含义：
离散傅里叶变换（Discrete Fourier Transform，缩写为DFT）
离散傅里叶变换是傅里叶变换在时域和频域上都呈离散的形式，将信号的时域采样变换为其DTFT的频域采样。在形式上，变换两端（时域和频域上）的序列是有限长的，而实际上这两组序列都应当被认为是离散周期信号的主值序列。即使对有限长的离散信号作DFT，也应当将其看作其周期延拓的变换。在实际应用中通常采用快速傅里叶变换（Fast Fourier Transform，FFT）计算DFT。
Design for Testability（可测试性设计，简称DFT）
DFT是Design for Testability的缩写，是一种集成电路设计技术。它将一些特殊结构在设计阶段植入电路，以便设计完成后进行测试。DFT的理念基于结构化测试（分治法），它并不是直接对芯片的逻辑功能进行测试来确保功能正常，而是尽力保证电路之间的低层级模块和它们之间的连接正确。
根据上下文的不同，DFT 的含义会有所不同。在信号处理和分析领域，它通常指的是离散傅里叶变换；在集成电路设计和测试领域，它指的是可测试性设计技术。