分析XRD（X射线衍射）图谱主要关注以下几个方面：
定性分析
通过匹配标准PDF卡片，确定样品中包含的物质及其晶体结构。
查找图谱中的特定角度，这些角度对应于晶体的特定晶面。
定量分析
衍射峰面积表示晶体含量，面积越大，晶相含量越高。
利用谢勒公式（Scherrer's formula）计算晶粒尺寸，基于衍射峰的半高宽（FWHM, Full Width at Half Maximum）。
结晶度分析
峰越尖锐，结晶度越好。
信噪比（Signal-to-Noise Ratio）越高，图谱质量越好，测量越精确。
晶粒尺寸和形态
峰宽可以反映晶粒尺寸，峰宽增加可能表明晶粒尺寸小于300nm，即样品为微晶状态。
如果衍射峰宽度接近其高度，样品可能为非晶态。
择优取向
如果图谱中某一峰相对于其他峰特别高，可能表明该物质在某一方向上有择优取向。
其他信息
XRD图谱还可以提供晶系、晶胞参数等信息。
分析XRD图谱时，通常需要使用专业软件，如MDI Jade，进行计算机辅助检索，以及参考标准XRD图谱数据库（如JCPDS）进行对比分析。